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常温X-射线单晶衍射仪
2012-11-09 10:12  

仪器名称:X-射线单晶衍射仪

型号:SMART APEX II

厂家:德国布鲁克(BRUKER)AXS公司

检测对象和内容:

x-ray单晶衍射仪是基于单晶体与X射线所产生的衍射作用的研究所形成的一种系统的晶体结构分析方法,它的任务是解释晶体结构,即原子在晶体里的排列分布,确定晶体所属的晶系,晶体的晶胞参数、空间群、晶胞内各个原子的位置及其相应的温度因子。用这些参数还可以进一步求得晶胞体积,一个晶胞内所含的化学式量数,晶体的密度,成键和非成键原子间的距离、键角、分子的立体结构,原子间的二面角,平面方程,分子的相对和绝对构型,配位多面体的配位几何学等众多的信息。

主要应用领域:

物质的各种性质、生物分子的功能是与不同层次的结构问题紧密联系在仪器的。分子与晶体结构是揭示结构与性能关系的重要环节。由于单晶结构分析所揭示的化合物的结构和性能间的关系,因此可以用于化学、药物学、物理学、分子生物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。

主要技术参数:

SMART APEXⅡCCD 面探检测器 CCD类型 4K CCD,芯片面积62 mm x 62 mm像素数目 4096 x 4096; CCD 束锥比1:1、 无空间畸变;>70% 透光率;暗电流(噪音):< 0.1 el/pixel/s增益;(灵敏度)>170e/Mo x-ray photon像素尺寸≤15mm x 15mm;读出口 4个;数据读出时间:0.16 s(512 x 512 模式)最大动态范围>25,000,000e/pixe;晶体―探测器窗口距离25-250mm 可调。

主要功能特点介绍:

SMART APEXⅡ X射线单晶衍射仪用以测定一个新化合物(晶态)分子的准确立体结构,从而给出详细的键长、键角、 构型、构像甚至成键电子密度及分子在晶格中的排列情况。在分子和原子水平上提供晶态物质的微观结构信息。SMART APEXⅡ分析系统的探测器为目前国际最先进水平的二维面探检测器,即能进行1:1呈像的4K CCD为特色的突破性新型CCD系统,具有采集数据快速、无空间畸变和强度损失极小的特点。传统的四园单晶衍射仪测试一个样品需要3-7天,而SMART APEXⅡ单晶衍射仪只需要4-6小时,分析速度大为提高。同时SMART APEXⅡ的高灵敏度、高分辨率和低噪声有利于获得更多可观察反射点,更准确地确定结构,有利于检测反射能力极弱的小分子晶体结构测定。

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