仪器型号：TecnaiG² F20

制造商：FEI

主要特色：

Tecnai G² F20 S-TWIN是由FEI公司新开发的真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、STEM、EDX等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。由于采用高发射电流Schotty场发射电子枪，拍摄到的图像具有亮度高，稳定性好的特点。同时该仪器配备了高角环形暗场探测器（HAADF）,可以进行扫描透射分析工作，分辨率可以达到0.34nm。该仪器还配置了EDAX公司的X射线能谱仪，可以对各种材料进行微区成分分析，其技术性能指标在国内处于领先水平。

主要规格及技术指标：

最大加速电压: 200 KV

点分辨率：0.24nm

线分辨率：0.102nm

信息分辨率：≤0.14nm

样放大倍数：25-103万倍

能谱能量分辨率：136 ev

元素检测范围：B～U元素

主要功能及应用范围：

对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、定量及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。

对材料进行高分辨电子显微学研究

粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定

金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析

材料中元素定性分析、定量分析。